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研討會|Fischione聚焦離子束切割拋光系統知識要點剖析

發布時間: 2023-07-27  點擊次數: 472次

機械磨樣、氬離子拋光、FIB(聚焦離子束技術)是常見的三種樣品制樣加工方式,每種樣品制樣加工方式各有優缺點,主要如下:

1.手工機械研磨樣雖價格便宜可觀察區域面積大,但由于其受到硬度、延展性等材料性能的影響,做出來的截面常常有變形、磨痕、脫落、褶皺、熱損傷等特性,產生假象,嚴重影響分析準確度,對厚度測量,截面觀察帶來困難。

2.氬離子拋光制樣是利用高壓電場使氬氣電離產生離子態,產生的氬離子在加速電壓的作用下,高速轟擊樣品表面,對樣品進行逐層剝蝕而達到拋光的效果??蛇M行截面制備與平面拋光,價格稍高,但樣品表面光滑無損傷,加工精度高,界面清晰,鍍層尺寸測量準確,還原材料內部的真實結構,用于制備EBSD、CL、EBIC或其它分析制樣。

3.聚焦離子束技術(FIB)是利用電透鏡將鎵離子束聚焦成非常小尺寸的離子束轟擊材料表面,實現材料的剝離、沉積、注入、切割和改性,配合掃描電鏡(SEM)等高倍數電子顯微鏡實時觀察,成為了納米級分析、制造的主要方法。雖然價格昂貴、加工區域小,但避免了金屬延展、碎屑填充、厚度偏差大的弊端。

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